Trabajo de uesebistas en el área de microelectrónica es el más descargado

El trabajo de los profesores uesebistas Adelmo Ortiz Conde y Francisco García Sánchez, y sus coautores J. J. Liou, A. Cerdeira, M. Estrada y Y. Yue, fue la publicación más descargada en los últimos noventa días relacionada con confiabilidad en el área de microelectrónica.

El Decanato de Investigación y Desarrollo informó que tras catorce años de haberse publicado, el artículo A review of recent MOSFET threshold voltage extraction methods. Microelectronics Reliability (2002 May 31;42 (4):583-96), continúa siendo referencia a nivel mundial en el área, y acumula 396 citas de acuerdo con las métricas de Google Scholar.

Los interesados en el tema pueden consultar esta presentación de Ortiz y García.

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